SOC/ASIC设计验证和测试方法学
作者：沈理
出版时间：2006
本书阐述了设计系统芯片（SOC）所需的新的设计、验证和测试方法学，其基本原理同样适合于超大规模专用集成电路芯片（ASIC）的设计。本书适合IC设计领域的科技人员，高校相关专业大学生和研究生。本书的具体内容有：集成电路发展史及SOC设计所面临的挑战；SOC设计：SOC模型、设计分层、设计重用技术等；SOC/ASIC验证：功能验证、等价验证、静态分析验证、物理验证等；SOC/ASIC测试：集成电路测试技术、可测试性设计方法；集成电路设计语言（包括SystemC，SystemVerilog，OpenVera等）及其新发展；Synopsys公司的EDA系统以及相关的IC设计和验证方法学；Philips SOC设计平台的实例
