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电子信息
2023-11-06
GB/T 41815.3-2023 信息技术 生物特征识别呈现攻击检测 第3部分:测试与报告
2023-11-06
GB/T 1555-2023 正式版 半导体单晶晶向测定方法
2023-11-06
GB/T 1553-2023 正式版 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
2023-11-04
GB/T 42587-2023 信息技术 自动识别与数据采集技术 数据载体标识符
2023-11-03
GB/T 42709.5-2023 半导体器件 微电子机械器件 第5部分:射频MEMS开关
2023-11-03
GB/T 32920-2023 信息安全技术 行业间和组织间通信的信息安全管理
2023-11-03
GB/T 31496-2023 信息技术 安全技术 信息安全管理体系 指南
2023-11-03
GB/T 31167-2023 信息安全技术 云计算服务安全指南
2023-11-03
GB/T 29268.7-2023 信息技术 生物特征识别性能测试和报告 第7部分:卡上生物特征识别比对算法测试
2023-11-03
GB/T 15879.604-2023 半导体器件的机械标准化 第6-4部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 焊球阵列(BGA)封装的尺寸测量方法
2023-11-01
GB/T 6616-2023 正式版 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法
2023-11-01
GB/T 42907-2023 正式版 硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法
2023-11-01
GB/T 42905-2023 正式版 碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法
2023-11-01
GB/T 42897-2023 正式版 微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法
2023-11-01
GB/T 42896-2023 正式版 微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳尺度结构冲击试验方法
2023-11-01
GB/T 42895-2023 正式版 微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法
2023-11-01
GB/T 42676-2023 正式版 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
2023-11-01
GB/T 42409-2023 正式版 物联网 电子价签系统 总体要求
2023-11-01
GB/T 42191-2023 MEMS压阻式压力敏感器件性能试验方法 正式版
2023-11-01
GB/T 35307-2023 正式版 流化床法颗粒硅
2023-11-01
GB/T 34213-2023 正式版 蓝宝石单晶用高纯氧化铝
2023-11-01
GB/T 30652-2023 正式版 硅外延用三氯氢硅
2023-11-01
GB/T 29057-2023 正式版 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
2023-10-31
GB/T 30282-2023 正式版 信息安全技术 反垃圾邮件产品技术规范
2023-10-31
GB/T 28451-2023 正式版 信息安全技术 网络入侵防御产品技术规范
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SJ/T 11619-2016 软件工程 NESMA 功能规模测量方法版本2.1 使用功能点分析的定义和统计准则