欢迎访问学兔兔标准下载网，学习、交流 分享 ！

返回首页 |
当前位置: 首页 > 行业标准>电子信息 > SJ 21343-2018 微波元器件低温环境下S参数测试方法

SJ 21343-2018 微波元器件低温环境下S参数测试方法

收藏
  • 大小：3.45 MB
  • 语言：中文版
  • 格式： PDF文档
  • 类别：电子信息
  • 更新日期：2022-09-19
本站推荐： 升级会员 无限下载,节约时间成本！
关键词：元器件   微波   参数   低温   环境
资源简介
本标准规定了微波元器件低温环境下S参数的测试方法。本标准适用手微波元器件(包括放大器芯片、场效应晶体管、片式电容、片式电感、片式电阻）低温环境下的S参数测试
下载地址
点击进入下载地址列表
SJ 21343-2018 微波元器件低温环境下S参数测试方法资源截图
上一篇: SJ 21342-2018 极低噪声测试方法
下一篇: SJ 21344-2018 超导滤波器测试方法
立即下载

推荐信息

GB/T 36324-2018 信息安全技术 工业控制系统信息安全分级规范
GB/T 22726-2008 多声道数字音频编解码技术规范
GB/T 26125-2011 电子电气产品 六种限用物质的检测方法
GB/T 36073-2018 数据管理能力成熟度评估模型
GB/T 22080-2016 信息技术 安全技术 信息安全管理体系 要求
SJ/T 11141-2017 发光二极管(LED)显示屏通用规范
GB/T 8567-2006 计算机软件文档编制规范
GB/T 22081-2016 信息技术 安全技术 信息安全控制实践指南
GB/T 11446.1-2013 电子级水
SJ/T 11619-2016 软件工程 NESMA 功能规模测量方法版本2.1 使用功能点分析的定义和统计准则