欢迎访问学兔兔标准下载网,学习、交流 分享 !

返回首页 |
当前位置: 首页 > 资料下载>团体标准规范 > T/CPIA 0144-2025 硅多晶表面微硅尘的测定 浊度计法

T/CPIA 0144-2025 硅多晶表面微硅尘的测定 浊度计法

收藏
关键词:表面   浊度计   多晶   CPIA   0144
资源简介

  团 体 标 准

  T/CP IA 0144—2025

  多晶硅表面微尘的测定 浊度计法

  Determination of micro-silica dust on the surface of polycrystalline

  silicon-Nephelometry

  2025 - 11 - 15 发布 2025 - 11 - 30 实施

  中国光伏行业协会 发 布

  前 言

  本文件按照GB/T 1.1—2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。

  请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

  本文件由中国光伏行业协会标准化技术委员会提出并归口。

  本文件起草单位:天合光能股份有限公司、中国电子技术标准化研究院、亚洲硅业(青海)股份有限公司、甘肃瓜州宝丰硅材料开发有限公司、三一硅能 (朔州)有限公司、包头阿特斯阳光能源科技有限公司、无锡市检验检测认证研究院、英利能源发展有限公司、四川永祥股份有限公司。

  本文件主要起草人:马中洋、袁新生、李冬梅、段少静、田润朝、柴玉齐、王玉虎、姜勇、李阳、孟庆超、李剑波。

  多晶硅表面微尘的测定 浊度计法

  1 范围

  本文件规定了多晶硅表面微尘的方法原理、试剂和材料、仪器设备等测定。

  本文件适用于多晶硅破碎后表面微尘浊度的测定,检测下限为0.1 NTU。

  2 规范性引用文件

  下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

  GB/T 6682 分析实验室用水规格和试验方法

  HJ 1075 水质 浊度的测定 浊度计法

  3 术语和定义

  下列术语和定义适用于本文件。

  3.1

  微尘 micro-silica dust

  硅料表面存在的可漂浮于水中的细小颗粒,包含不定型硅、多晶硅和环境中粉尘。

  3.2

  浊度 turbidity

  溶液对光线通过时所产生的阻碍程度,包括悬浮物对光的散射和溶质分子对光的吸收。

  4 方法原理

  多晶硅表面粘附的微尘,经过超声振动后充分散落到水溶液中,利用浊度计检测该溶液的浊度,以此来评定多晶硅表面微尘的含量浊度计原理示意图参见图1。

  图 1 浊度计原理示意图

  5 试剂和材料

  5.1 要求

  分析时应使用符合GB/T 6682的分析纯试剂,另有说明除外。去离子水应符合GB/T 11446.1-2013中描述的EW-Ⅱ型或其他品质合格的去离子水。

  5.2 浊度标准使用液

  浊度标准贮备溶液:400NTU,将浊度标准贮备溶液摇匀后,移取10 mL至100 mL容量瓶中,用去离子水稀释定容至标线,并摇匀,制备成浊度为40 NTU的浊度标准使用液。4℃以下冷藏条件下可避光保存1个月。

  注:浊度标准使用液的浓度可按照检测需要自行制备。

  6 仪器和设备

  试验过程中的的仪器和设备要求如下:

  a) 样品瓶:20mL 具塞玻璃瓶或聚乙烯瓶;

  b) 超声清洗器:40 kHz;

  c) 烧杯:聚四氟乙烯(PTFE)材料,500mL 和 2500mL;

  d) 取样夹:聚四氟乙烯(PTFE)材料或全氟烷氧基数脂(PFA)材料;

  e) 擦镜纸;

  f) 电子天平:分度值为 0.01 g;

  g) 浊度计:

  1) 90℃散射光;

  2) 测试范围:0NTU~200NTU。

  h) 测试环境温度要求:5 °C~40 ℃

  7 样品

  7.1 样品的采集

  准备干净的聚乙烯袋,将经过破碎的多晶硅碎块用聚四氟乙烯(PTFE)或全氟烷氧基数脂(PFA)取样夹夹取至聚乙烯袋内,每次取样不少于200 g,在料袋上、中、下位置均匀取样,取完后封口送至实验室内,送样过程中不能摇晃聚乙烯袋, 以免硅料之间相互碰撞,导致微粉尘产生,影响检测结果。

  样品要求:8mm以上的小块料和块料均要求样品长、宽、高线性尺寸均为3 cm ±1 cm的尺寸。

  7.2 样品的制备

  多晶硅块料形状不规则,称取(30±5)g左右的多晶硅,将称取的多晶硅放置于2500 ml容积的烧杯(6.3)中,加入约1250 ml~1750 ml的去离子水(与多晶硅质量成50倍关系),放至40kHz(100%)超声波清洗器,超声5min后取下,立即倒入样品瓶中,用擦镜纸擦拭样品瓶表面的水渍,待测,为防止颗粒沉降后影响测试结果,建议在超声完成后30 s内完成测试。

  8 分析步骤

  8.1 仪器自检

  按照仪器说明书打开仪器预热,仪器进入自检,仪器进入测量状态。

  8.2 校准

  用去离子水放入样品瓶中至刻线,盖好瓶盖,用擦镜纸擦拭干净,放入样品池内,对仪器进行零点校准。将浊度贮备液稀释成不同浓度点,分别倒入样品瓶内,按仪器使用说明书的要求进行标准系列校准。

  8.3 样品测定

  在样品制备完成后10min内,将装有待测样品的样品瓶进行摇匀,放入浊度计内,按下仪器测量键,待读数稳定后记录数据。

  超出仪器量程范围的样品,可用去离子水稀释后测量。

  9 结果计算与表示

  9.1 结果计算

  一般仪器能直接读出测量结果,无需计算。经过稀释的样品,读数乘稀释倍数,即为样品的浊度值。

  9.2 结果表示

  一批次样品测试1次记录测试结果,当测定结果小于10NTU时,保留小数点后一位;测定结果大于等于10NTU时,保留至整数位。

  10 试验报告

  试验报告应包含以下内容:

  a) 样品信息;

  b) 本文件编号;

  c) 仪器型号;

  d) 实验室名称、测试日期、测试者、审核者;

  e) 分析结果及其表示;

  f) 其他。

下载地址
T/CPIA 0144-2025 硅多晶表面微硅尘的测定 浊度计法资源截图