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团 体 标 准
T/CVIA 107-2023
交互平板触控系统技术规范
General technical specification for touch system of interactive board
2022-12-26 发布 2023-03-02 实施
中国电子视像行业协会 发布
目 次
前 言
本文件按照 GB/T1.1-2020《标准化工作导则第 1 部分：标准文件的结构和起草规则》给出的规则起草。
本文件首次发布，随着相关技术和业务的发展，后续还将制定相关标准。
本文件由中国电子视像行业协会提出并归口。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本文件由中国电子视像行业协会、中国电子视像行业协会公共信息显示分会、广州视源电子科技股份有限公司发起，苏州苏大维格科技集团股份有限公司、苏州维业达触控科技有限公司、深圳市康冠商用科技股份有限公司、深圳市鸿合创新信息技术有限责任公司、京东方科技集团股份有限公司、 TCL华星光电技术有限公司、四川长虹教育科技有限公司、厦门厦华科技有限公司、东莞市安道光电材料制造有限公司、广州众远智慧科技有限公司、创维光电科技(深圳) 有限公司、青岛海信商用显示股份有限公司、杭州海康威视数字技术股份有限公司、深圳市志凌伟业光电有限公司、同方计算机有限公司、江苏欧帝电子科技有限公司、北京洛数合图科技有限公司等企业共同参与。
本文件起草人：郝亚斌、彭健锋、冯晓曦、董敏、张利利、刘红波、陈才、黄俊辉、莫荣斌、邬营杰、侯旻翔、杨铭、周小红、蒋林、李振乐、于翔、顿胜堡、高泽文、耿伟彪、孙如斌、沈凯、黄卫东、张博、胡雪川、李禄均、王童、袁元春、黎成勇、刘浩、左繁、陈家胜、胡永双、叶志龙、苏伟、王海峰、姚磊、李国壮、王育红。
本文件是首次发布。
交互平板触控系统技术规范
1. 范围
本文件规定了应用于教育、会议、商场等商用环境的交互平板(≥55 英寸)中，触控系统相关的术语和定义、技术要求、测试方法等方面的内容，其他领域交互产品的触控系统也可参考本文件。
本文件中的触控系统所指对象为触摸操作有关的技术和模组，包括电容式和红外式触控模组，各触控模组所对应的控制卡，以及对应使用的触控手写笔。
本文件中的技术要求及其相应的测试方法，是产品设计和检验的主要依据。
2. 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB 4943.1—2011 信息技术设备安全第 1 部分：通用要求
GB 8898—2011 音频、视频及类似电子设备安全要求
GB 9254—2021 信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法
GB 15763.2—2005 建筑用安全玻璃 第2部分：钢化玻璃
GB 17625.1—2012 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)
GB/T 17626.2—2018 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验
GB/T 2410—2008 透明塑料透光率和雾度的测定
GB/T 2423.1—2008 电工电子产品基本环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 A：低温
GB/T 26572—2011 电子电气产品中限用物质的限量要求
GB/T 26125—2011 电子电气产品 六种限用物质(铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚)的测定
GB/T 29786—2013 电子电气产品中邻苯二甲酸酯的测定 气相色谱-质谱联用法
GB/T 4857.11—2005 包装 运输包装件基本试验 第 11 部分：水平冲击试验方法
GB/T 4857.17—2017 包装 运输包装件基本试验 第17部分：编制性能试验大纲的通用规则GB/T 4857.23—2021 包装 运输包装件基本试验 第23部分：垂直随机振动试验方法
GB/T 5398—2016 大型运输包装件试验方法
SJ/T 11325—2006 数字电视接收及显示设备可靠性试验方法
SJ/T 11348—2016 平板电视显示性能测量方法
SJ/T 11694.1—2017 交互式电子白板技术规范 第 1 部分：红外交互式电子白板
T/CVIA 80-2020 智慧教育黑板技术规范
IEC 62908-12-10-2017 Touch and interactive displays-part 12-10:Measurement methods of touch displays-Touch and electrical performance
ISO/CIE 11664-4:2019 Colorimetry — Part 4: CIE 1976 L*a*b* colour space
3. 术语和定义
3.1
交互平板 Interactive Board
具备触摸功能，通过触控模组与设备操作系统进行数据通讯，实现人与设备进行交互的信息显示设备。
3.2
触控模组 Touch Module
由相关的发射与接收电子器件构成，在屏幕上形成触控探测网，触摸体可改变探测网上的触控信号从而实现触摸信息(如触摸物坐标、面积等)识别的模组。
3.2.1
电容式触控模组 Capacitive Touch Module
由装在显示模组之上或内部，平整覆盖于整个显示区域，分别在 X 轴和 Y 轴上设有若干通道的电容极板，当导体触碰触控模组表面，引起电容极板间或电容极板和地之间的电容变化，通过感应此电容变化以实现触摸信息(如触摸物坐标、面积等)识别的模组。
3.2.2
红外式触控模组 Infrared Touch Module
由装在显示设备边框的红外线发射与接收感测元件，在屏幕近表面形成红外线探测网，任何触摸物体可部分或全部遮挡或改变触点附近的红外线以实现触摸信息(如触摸物坐标、面积等)识别的模组。
3.3
透过率 Transmittance
光线透过透明或半透明体后的光通量与其入射光通量的百分比。
3.4
雾度 Haze
光线透过透明或半透明体后，偏离入射光 2.5°角以上的散射光通量与总透射光通量的百分比。
3.5
a*值 a* Value
CIELab 表色系中物质由绿色变红色的程度(a*>0 表示红色系，a*<0 表示绿色系)。
3.6
b*值 b* Value
CIELab 表色系中物质由蓝色变黄色的程度(b*>0 表示黄色系，b*<0 表示蓝色系)。
3.7
非透明导体线宽 Line Width of Opaque Conductor
电容式触控模组中，非透明的线状导体的宽度。
3.8
红外滤光条 Infrared-passing Filter
安装在显示设备边框的红外线发射及接收感测元件表面，以减少其它光源对元件的光干扰影响，具有过滤可见光，透过红外光能力的滤光片。
3.9
红外透过起始阈 Infrared Transmittance Threshold
光能有效透过红外滤光条且不大于红外波长的最小波长(对于本文件来说，有效透过红外滤光条的条件是透过率≥5%)。
3.10
点击精度 Touch Accuracy
触摸体点击(按下并抬起)触控模组屏幕后，触控模组所输出的触摸坐标与触摸接触面中心(物理坐标)的偏差。
3.11
线性度 Linearity
触摸体按照规定路径在触控模组屏幕表面直线移动，触控模组所输出的线条的连续性和偏移情况。
3.12
抖动性 Jitter
触摸体接触屏幕表面后保持静止状态，触控模组所输出的触摸坐标在触摸接触面中心(物理坐标)附近的离散程度。
3.13
首点响应时间 Touch Down Latency
触摸体点击接触到屏幕表面开始，到触控模组输出至操作系统的首个触摸坐标的时间间隔。
3.14
触控延时 Touch Latency
触摸体在屏幕表面上进行划线/书写交互操作过程中，触摸体接触实际触摸位置时刻与触控模组输出该坐标时刻的时间间隔。
3.15
触摸分辨率 Touch Resolution
通过触摸检测系统处理后，触控模组在 X 轴和 Y 轴方向所能输出的最大的触控逻辑坐标数值。
3.16
报点率 Frame Rate
在接触屏幕表面情况下，每秒时间内，触控模组上报至操作系统的触摸帧数。
3.17
触摸高度 Touch Height
触控模组输出触摸坐标时，触摸体和屏幕之间的最大距离。
3.18
最小识别物 Minimum Object Size
触控模组可支持正常点击、书写交互操作的触摸体最小识别直径。
3.19
最小触摸间距 Minimum Separation Distance
在触控模组允许多个触摸物均能实现正常点击、划线操作的前提下，触摸物之间的最小距离。
3.20
触摸点数 Touch Points
触控模组可同时正常点击交互操作的触摸体数量。
3.21
书写点数 Writing Points
触控模组可同时正常书写交互操作的触摸体数量。
3.22
主动电容笔 Active Capacitive Stylus
使用电容式触控技术，主动向触控模组发送编码信号，由触摸传感器接收，并被触控控制卡的主控芯片解析后，可以被触控控制卡的主控芯片区分主动电容笔自身和手指/被动笔 ID 信息的触控手写笔。
4. 技术要求
4.1 正常使用条件
除另有规定，应在下列正常工作条件下进行：
----环境温度：5℃~35℃
----相对湿度：20%~80%
----环境气压：86kPa~106kPa
4.2 基本外观、结构要求
4.2.1 外观要求
触控模组对应用户触摸交互的屏幕面(不含相关触控模组的控制板)，外观应整洁，要求无明显的点状、线状异物、划伤、气泡，具体要求见表 1。
表 1 外观要求
4.2.2 结构要求
红外式触控模组所搭配的屏幕及玻璃外凸量不允许遮挡红外感测器件，玻璃弯曲度符合 GB 15763.2—2005 中 5.4 的要求。
4.3 基本功能要求
触控模组基本功能参考表 2
表 2 基本功能要求
4.4 光学性能要求
4.4.1 电容式触控模组光学性能要求
对于外挂式的电容式触控模组视窗区域的光学性能应满足如下表3的要求(incell或是oncell类型的电容式触控模组则不作如下要求)。
表 3 电容式触控模组光学性能要求
4.4.2 红外式触控模组光学性能要求
红外触控模组光学性能应满足表 4 的要求(主要针对红外滤光条)。
表 4 红外触控模组光学性能要求
4.5 触控性能(≥55inch)
4.5.1 电容式/红外式触控模组性能----手/被动笔
当使用手/被动笔作为触摸物进行触摸操作时，电容式/红外式触控模组触控性能应满足表 5 的要求。
表 5 电容式/红外式触控模组触控性能要求----手/被动笔
图 1 视窗边缘与非边缘示意图
4.5.2 电容式触控模组性能----主动电容笔
当使用主动电容笔作为触摸物进行触摸操作时，电容式触控模组的触控性能应满足表6 的要求。
表 6 电容式触控模组触控性能要求----主动电容笔
4.6 触控手写笔要求
触控手写笔性能要求参考表7。
表 7 触控手写笔性能要求
4.7 抗干扰能力
4.7.1 电容式/红外式触控模组抗 ESD 要求
电容式/红外式触控模组抗ESD能力应满足表8的要求。
表 8 电容式/红外式触控模组抗 ESD 要求
4.7.2 电容式触控模组抗干扰能力要求
电容式触控模组抗干扰能力应满足表9的要求。
表 9 电容式触控模组抗干扰能力要求
4.7.3 红外式触控模组抗干扰能力要求
红外式触控模组抗干抗能力应满足表10的要求。
表 10 红外式触控模组抗干扰能力要求
4.8 电磁兼容特性限值要求
谐波电流限值应符合 GB 17625.1—2012 的有关要求;
干扰特性限值应符合符合 GB 9254—2021 的有关要求。
4.9 可靠性要求
触控模组平均失效间工作时间(MTBF)的下限值不小于 30000h。
4.10 环境适应性要求
触控模组的环境适应性要求应满足表 11。
表 11 环境适应性要求
4.11 包装机械类性能要求
触控模组的包装机械类要求应满足表 12。
表 12 包装机械类要求
4.12 安全性
触控模组安全性要求符合 GB 8898—2011 或 GB 4943.1—2011 的有关规定。
4.13 环保要求
触控模组环保要求符合如下表 13 要求。
表 l3 环保要求
5. 检测方法
5.1 外观、结构和光学性能检验方法
5.1.1 外观检验方法
参照 SJ/T 11694.1—2017 中 6.2.2 要求。
5.1.2 玻璃弯曲翘曲度测量
参照 GB 15763.2—2005 中 6.4 要求。
5.1.3 透过率、雾度测量
参照 GB/T 2410—2008 的有关要求。
5.1.4 a*、b*值(CIELab 表色系)测量
a*、b*值(CIELab 表色系)测量如下：
测量仪器：分光测色计
测量步骤如下：
a) 分光测色计工作模式调整为透射模式，并在测试前对分光测色计进行校正;
b) 分光测色计的出光口，朝向电容式触控模组正面(用户操作面)视窗区域(如果电容式触控模
组过大无法放入分光测色计的测试槽中，可替换成 50mm*50mm 左右大小的测试样品，测试样品所用材料和加工工艺与对应的电容式触控模组一致)，操作分光测色计进行测试，输出 a*值和 b*值;
c) 测试 5 次，分别计算 a*、b*的平均值。
5.1.5 视窗区域内非透明导体的线宽测量
视窗区域内非透明导体的线宽测量方法如下：
测试设备：带有尺寸测量功能的电子显微镜(建议放大倍数 200 以上)
测试步骤如下：
a) 带有尺寸测量功能的电子显微镜连接计算机，在计算机上运行对应的电子显微镜软件;
b) 将电子显微镜头对准电容屏式触摸模组屏幕表面，调整电子显微放大倍数和焦距(如有需要可增加外部光照强度以提高清晰度)，直到对应需要测量的非透明导体清晰可见;
c) 设置完放大倍数和焦距后，通过软件进行尺寸校正，然后测量对应非透明导体的宽度(单位： um);
d) 重复 b)~c)的步骤，测量随机 10 根非透明导体线宽(单位：um)。
要求：所测得的数据均需满足相关规格要求。
备注：如电容屏式触摸模组尺寸过大不便于测量，可使用相同材料和工艺制成的对应尺寸合适的测试样品进行测试。
5.1.6 红外滤光条透过率、红外透过起始阈测量
红外滤光条透过率、红外起始阈测量方法如下：
测量仪器：光谱仪
测量步骤如下：
a) 将光谱仪的测试波长范围设定为 325-1100nm，并对仪器进行校正;
b) 将被测红外滤光条垂直放置于样品室光路中，测量被测物在 325-1100nm 波长范围内所对应的透过率数据;
c) 根据所测得的对应波长和透过率数据，绘制波长(x 轴)对应透过率(y 轴)的光谱曲线。通过所绘制得的光谱曲线，判定当前被测物是否满足相关红外波段的透过率和红外起始阈值要求。
5.2 触控性能测量方法
5.2.1 触控性能测量设备要求
触控性能测量设备要求应符合表 14 的规定。
表 14 触控性能测试设备要求
被测样品和检测设备设置如下：
a) 在被测样品上安装测试软件，被测样品和测试软件通过 WIFI 或者网络线缆进行数据通信;注：如果被测样品不能安装测试软件，可外置计算机。
b) 将被测样品固定于测试台上，用采集专用测试头，分别对准被测样品触摸区域右上角和左下角(或左上角和右下角)，采集被测样品在机台上的参数坐标，同时将被测样品系统分辨率预设在测试软件中;
c) 打开测试设备测试软件，划线检查被测样品和测试软件通信正常，根据测试需要选择对应的测试体(例如不同直径的铜柱、被动笔、主动电容笔、测试杆等)。
5.2.2 点击精度测量
点击精度测量步骤如下：
a) 将被测的触控模组以及对应控制卡连接到表 14 的测试设备;
b) 使用表 14 的测试设备，将ɸ7mm 铜柱安装至机械臂上(铜柱需要接地)，铜柱靠近触摸面的圆形截面和屏幕的起始距离至少 10mm，控制机械臂在 Z 轴方向驱动铜柱向屏幕靠近，直到ɸ7mm 铜柱的圆形截面接触触摸面(要求铜柱垂直于触摸面，铜柱圆形面和触摸面完全接触)，测试位置参考图2 所示的 13 个测试点;
c) 触摸下压保持时间 100ms 、300ms 各测试一次;
d) 记录触控模组上报的所有报点坐标;
e) 记录设备仪器记录的标准物理坐标;
f) 根据每个报点坐标与标准物理坐标，按公式(1)计算，取 d0 最大值：
d (1)
式中：
d0——报点坐标与标准物理坐标的距离，d0 ≥0，单位为毫米(mm);
(x,y)——标准物理坐标;
(x’,y’)——报点坐标。
图 2 点击精度测试点位置
注：标号为 5、10、11、12、13 的五个点为非边缘点，其余点为边缘点。
测试主动电容笔点击精度，可将以上ɸ7mm 铜柱调整为主动电容笔(主动电容笔垂直于触控模组屏幕面，笔尖接触触控模组屏幕面)，按以上方式步骤进行测试即可。
5.2.3 线性度测量
线性度测量步骤如下:
a) 将被测的触控模组以及对应控制卡连接到表 14 的测试设备;
b) 使用表 14 的测试设备，将ɸ7mm 铜柱安装至机械臂上(铜柱需要接地)，铜柱靠近触摸面的圆形截面和触摸面的起始距离至少 10mm，控制机械臂在 Z 轴方向驱动铜柱向触摸面垂直靠近，直到ɸ7mm 铜柱的圆形面接触触摸面(要求铜柱垂直于触摸面，铜柱圆形截面和触摸面完全接触)，按照图 3 的轨迹示意(标号为 5、6、7、8 的四条线为非边缘线，其余标号的线为边缘线)，操纵铜柱在触摸面上划线，速度 l00mm/s.、300mm/s 各测试一次;
c) 记录触控模组上报的所有报点坐标;
d) 根据实际的物理划线轨迹，得出实际划线的直线函数：
ai*x+bi*y+ci=0
(ai 、bi、ci 为以及 1~8 号线分别算出来后的系数，i=1~8)
e) 根据每个报点坐标值，按公式(2)计算，得到每个所报的触控坐标点到实际划线的垂直距离，取其中最大值：
di =| ai * x'+bi * y'+ci
式中：
di——1~8 号线中，各自划线的报点坐标到实际物理划线线段的垂直距离距离(i=1~8)，di ≥0，
单位为毫米(mm);
ai 、bi、ci——根据 1~8 号物理划线算出的直线函数 ai*x+bi*y+ci=0(i=1~8)里面的系数; (x’,y’)——报点坐标。
图 3 线性度测试示意图
注：四边的线(标号为 1、2、3、4)为边缘线，其余为非边缘线。
测试主动电容笔线性度，调整为主动电容笔(主动电容笔垂直于触摸面，笔尖接触触摸面)，按以上方式步骤进行测试即可。
5.2.4 稳态抖动性测量
稳态抖动性测量步骤如下：
a) 将被测的触控模组以及对应控制卡连接到表 14 的测试设备;
b) 使用表 14 的测试设备，将ɸ7mm 铜柱安装至机械臂上(铜柱需要接地)，铜柱的下圆形面和触摸面的起始距离至少 10mm，控制机械臂在 Z 轴方向驱动铜柱向屏幕垂直靠近，直到ɸ7mm 铜柱的圆形面接触摸面(要求铜柱垂直于触摸面，铜柱圆形面和触摸面完全接触)，测试位置参考图 2 所示的 13 个测试点;
c) 对于单个测试点位，触摸下压时间 1000ms 测试 1 次，对应产生 p 个报点坐标;
d) 记录单个测试点下触控模组的报点坐标(xk,yk);
e) 根据每个报点坐标值，按照公式(3)和公式(4)分别算出平均坐标值;
/ p ........................................................... (3)
/ p ........................................................... (4)
式中：
_ _
( x’, y’)——单个测试点的 p 个报点坐标(xk,yk)的平均坐标;
p——单个测试点所上报的坐标数量;
(xk,yk)——单个测试点的报点坐标(k=1~p);
f)按照公式(5)、公式(6)和公式(7)，计算出单个测试点的坐标离散性σ;
(5)
dk (k=1、2、3 p) (6)
....................................................... (7)
式中：
σ_ ——单个测试点中，所报坐标的离散性，σ≥0，单位为毫米(mm);_
d’——单个测试点的 p 个所报坐标的平均坐标与目标坐标的距离， d’≥0，单位为毫米(mm);
dk——单个测试点中，所有所报的坐标到目标坐标的距离，dk ≥0，单位为毫米(mm)，k=1~p;
(x,y)——标准物理坐标。
g)测得 13 个测试点各自的σ值，取最大的σ值作为抖动值(单位：mm)。
测试主动电容笔稳态抖动性，可将以上ɸ7mm 铜柱调整为主动电容笔(主动电容笔垂直于触摸面，笔尖接触触摸面)，按以上方式步骤进行测试即可。
5.2.5 触控首点响应测量
触控首点响应测量步骤如下：
a) 将被测的触控模组以及对应控制卡连接到表 14 的测试设备;
b) 使用表 14 的测试设备，将测试杆(被动笔或ɸ7mm 铜柱)应连接到机械臂上(测试杆需要接地)，测试杆(被动笔/或ɸ7mm 铜柱)垂直于触摸面，测试杆的端部(被动笔笔头或ɸ7mm 铜柱靠近触摸面的圆形截面)和触摸面的起始距离至少 10mm;
c) 控制机械臂，驱动测试杆在 Z 轴方向按 200mm/s 的速度垂直靠近屏幕。测量从测试杆实际碰到触摸面时刻与从触摸控制卡通讯接口输出中断信号时刻的时间差，作为触控模组的首点响应时间(单
位：ms)。
相关示意参考如下图 4：
图 4 首点响应时间计算示意
5.2.6 触控延时测量
触控延时测量步骤如下：
a) 将被测的触控模组以及对应控制卡连接到表 14 的测试设备;
b) 使用表 14 的测试设备，将测试杆(被动笔或ɸ7mm 铜柱)安装到机械臂上(测试杆需要接地)，测试杆与触摸面垂直，测试杆的端部(被动笔笔头或ɸ7mm 铜柱靠近触摸面的圆形截面)和触摸面的起始距离至少 10mm;
c) 控制机械臂驱动测试杆在 Z 轴方向垂直靠近触摸面，直到测试杆端部接触到触摸面，然后再控制机械臂以 300mm/s 的速度，驱动测试杆在触摸面表面进行划线，划线时开始计时，取得划线中间的一个物理标准坐标点作为标定点(x0,y0 )，并记录测试杆到达(x0,y0 )的时间 t0
(单位：ms)，并对应拟合绘制出物理划线轨迹直线函数：
a0*x+b0*y+c0=0(a0 、b0 、c0 为算出来后的系数)
d) 取得划线过程中落后于且最接近于标准物理坐标(x0 ，y0)的报点坐标 1(x1,y1)，以及从划线起始计时到对应报点坐标 1(x1,y1)报点的时间 t1(单位：ms);
取得划线过程中超过且最接近于标准物理坐标(x0,y0)的报点坐标 2(x2,y2)，以及从划线起始计时到对应报点坐标 2(x2,y2)报点的时间 t2(单位：ms);
相关示意可参考如下图 5：
图 5 示意图 (仅供参考)
式中：
(x ’1,y’ 1)——为报点坐标 1(x1 ，y1)在物理轨迹划线函数上的投影坐标 1;
(x’2,y’2)——为报点坐标 2(x2 ，y2)在物理轨迹划线函数上的投影坐标 2; a0 、b0 、c0——都为物理轨迹直线函数 a0*x+b0 *y+c0=0 中的系数。
f) 按如下公式(12)、公式(13)、公式(14)进行计算，测得 TL(单位：ms);
d1 = (x0 - x'1)2 + (y0 - y'1)2 (12)
d
TL =(t1 - t0)+(t 2 - t1)* d1 /(d1 + d2) ..............................................(14)
式中：
TL——触控延时时间(单位：ms);
d1——投影坐标 1(x’1 ，y’ 1)到所标定的标准物理坐标(x0 ，y0)的距离，d1 ≥0，单位为毫米(mm);
d2——投影坐标 2(x’2 ，y’2)到所标定的标准物理坐标(x0 ，y0)的距离，d2 ≥0，单位为毫米
(mm);
(x0 ，y0)——标定的标准物理坐标;
t0——测试杆到所标定的标准物理坐标(x0 ，y0)的时间(单位：ms);
t1——划线过程中到达落后于且最接近于标准物理坐标(x0 ，y0)的报点坐标 1(x1 ，y1)所用的时间(单位：ms)
t2——划线过程中到达超过于且最接近于物理坐标(x0 ，y0)的报点坐标 1(x2 ，y2)所用的时间(单位：ms)
g) 重复以上 c)~f)的步骤测试 10 次，计算 10 个 TL 的平均值作为触控延时时间(单位：ms)。
5.2.7 触摸分辨率测量
触摸分辨率测量步骤如下：
a) 将被测的触控模组及对应控制卡连接到表 14 的测试设备，并运行计算机上任意一款总线协议分析软件，进行触控模组数据包监听;
b) 使用表 14 的测试设备，将ɸ7mm 铜柱作为测试杆固定于机械臂上(铜柱需要接地)，要求ɸ7mm 铜柱与触摸面垂直，ɸ7mm 铜柱靠近触摸面的圆形截面和触摸面的起始距离至少 10mm;
c) 控制机械臂带动测试杆在 Z 轴方向垂直靠近触摸面，直到测试杆接触到触摸面，然后再以 10mm/s的速度，分别在可视区的 X 轴方向和 Y 轴方向上，在视窗内向视窗外滑动并超过视窗边缘(参考图 6)，通过总线协议分析软件获取触控模组上报的数据，分别读取在可视区 X 轴方向所能识别的最左和最右边的触控逻辑坐标：(XL,YL)，(XR ，YR )，以及可视区 Y 轴方向所能识别的最上和最下边的触控逻辑坐标：(XU,YU)，(XD ，YD);
图 6 示意图 (仅供参考)
d) 计算最大的触摸分辨率: | (XL-XR) | × | (YU-YD) |。
5.2.8 报点率测量
报点率测量步骤如下：
1、单指报点率测量步骤如下：
a) 将被测的触控模组及对应控制卡连接到表 14 的测试设备，并运行计算机上任意一款总线协议分析软件，进行触控模组数据包监听;
b) 使用表 14 的测试设备，将单根ɸ7mm 铜柱作为测试杆固定于机械臂上(铜柱需要接地)，要求ɸ7mm 铜柱与触摸面垂直，ɸ7mm 铜柱靠近触摸面的圆形截面和触摸面的起始距离至少 10mm;
c) 控制机械臂带动铜柱在 Z 轴方向垂直靠近触摸面，直到测试杆接触到触摸面，然后控制机械臂以 300mm/s 的速度，驱使铜柱在触摸面表面划线，划线时长 3s~5s，查看软件监听结果，统计铜柱
稳定划线过程中的中间时间连续 100 帧的触控数据(要求此触控数据中相邻坐标相同的点数少于 10%，如超出 10%则判定报点率规格不满足要求)所用的时间之和，求单个报点间隔的平均时间 T(单位：
ms);
d) 计算报点率：1000/T(单位：Hz)。
测试主动电容笔报点率，可将以上手指或ɸ7mm 铜柱调整为主动电容笔(主动电容笔垂直于触摸面，笔尖接触触摸面)，按以上方式步骤进行测试即可。
2、多指报点率测量步骤如下：
a) 将被测触摸的触控模组及对应控制卡连接到表 14 的测试设备，并运行整机上任意一款总线协议分析软件，进行触控模组数据包监听;
b) 使用表 14 的测试设备,使用 N 个ɸ7mm 铜柱一字排开(铜柱与铜柱之间距离≥50mm)，安装至机械臂上(铜柱需要接地)，要求各个ɸ7mm 铜柱与触摸面垂直，ɸ7mm 铜柱靠近触摸面的圆形截面和屏幕的起始距离至少 10mm;
c) 控制机械臂带动铜柱在 Z 轴方向垂直靠近触摸面，直到测试杆接触到触摸面，然后控制机械臂以 300mm/s 的速度，同时驱动 N 个ɸ7mm 铜柱，分别在触摸面的 X 轴和 Y 轴方向划直线，划线时长
3s~5s，查看软件监听结果，分别统计在 X 轴和 Y 轴上稳定划线过程中连续 100 帧*N 的触控数据(要求此触控数据中相邻坐标相同的点数少于 10%，如超出 10%则判定报点率规格不满足要求)所用的时间之和，分别求得 X 轴和 Y 轴方向上的单个报点间隔的平均时间 TN-x 和 TN-y(单位：ms);
d) 计算多点状态时的报点率，取 X 轴和 Y 轴方向的最小值作为报点率：min(1000/TN-x， 1000/TN-y)(单位：Hz)。
5.2.9 触摸高度测量
触摸高度测量步骤如下：
1、抬笔触摸高度测量步骤如下：
a) 将被测的触控模组及对应控制卡连接到表 14 的测试设备，分别取视窗 9 宫格中各个区域的中心位置作为测试点，将ɸ7mm 铜柱作为测试杆固定于机械臂上(铜柱需要接地)，要求ɸ7mm 铜柱与触摸面垂直，ɸ7mm 铜柱靠近触摸面的圆形截面和触摸面的起始距离至少 10mm，通过机械臂控制铜柱在Z 轴方向向屏幕垂直移动，刚好接触触摸面时，标记此时机械臂 Z 轴为0 点;
b) 让触摸体以 0.1mm 的步径垂直离开触摸面，每次步进一次后停留 500ms 再进行下一次步进，直到停止报点，记录此时的机械臂离开触摸面的行程距离 hu1(单位：mm);
c) 在各个 9 宫格的中心区域上，按以上 a)~b)的步骤重复测试 5 次取 hu1 的平均值(单位：mm);
d) 取 9 宫格区域中各自区域在 c)测得的 hu1 平均值的最大值作为抬笔触摸高度 hu(单位：mm)。
2、落笔触摸高度测量步骤如下：
a)将被测的触控模组及对应控制卡连接到表 14 的测试设备，分别取视窗 9 宫格中各个区域的中心位置作为测试点，将ɸ7mm 铜柱作为测试杆固定于机械臂上(铜柱需要接地)，要求ɸ7mm 铜柱与屏触摸面垂直，ɸ7mm 铜柱靠近触摸面的圆形截面和触摸面的起始距离至少 10mm，通过机械臂控制测试杆在 Z 轴方向向屏幕垂直移动，刚好接触触摸面时，标记此时机械臂 Z 轴为0 点;
b) 控制机械臂驱动触摸体垂直离开触摸表面h1(单位：mm)(要求此位置触控无报点)，然后让触摸体以0.1mm 的步径垂直靠近触摸面，每次步进一次后停留 500ms 再进行下一次步进，直到出现触控报点时，记录下此时的步进距离 h2(单位：mm)，计算出此时铜柱到触摸面的距离 hd1=h1-h2(单位：mm);
c) 在各个 9 宫格的中心区域上，都按以上 a)~b)的步骤重复测试 5 次取 hd1 的平均值(单位： mm);
d) 取 9 宫格区域中各自区域在 c)测得的 hd1 平均值的最大值作为落笔触摸高度 hd(单位：mm)。要求：抬笔触摸高度 hu 和落笔触摸高度 hd 均需要满足所要求的触摸高度规格。
5.2.10 最小识别物测量
最小识别物测量步骤如下：
a) 整机开机并运行支持多点划线的画图软件;
b) 使用表 14 的测试设备，从粗到细依次使用ɸ10mm、ɸ9mm、......ɸ1mm 的铜柱，分别安装到机械臂中(铜柱需要接地)，铜柱垂直于触摸面，铜柱靠近触摸面的圆形截面和触摸面起始距离至少 10mm;
c) 驱动机械臂使对应的铜柱在 Z 轴方向向触摸面垂直靠近，直到铜柱圆形面和触摸面完全接触，
然后驱动机械臂按照 300mm/s 的速度，使铜柱在触摸面的 X 轴、Y 轴方向进行划线，划线长度≥500mm。
d) 按照以上步骤，测量得出划线无断线的最小直径铜柱，其直径作为单点的最小识别物测试结果(单位：mm)。
e) 分别选取从粗到细依次使用ɸ10mm、ɸ9mm、......ɸ1mm 的铜柱，相同直径的铜柱使用 5 个(铜柱与铜柱之间间距≥50mm)安装至机械臂上，按参照 a)~c)的步骤和方式将对应的数个相同的铜柱在触摸面的 X 轴、Y 轴方向进行同时划线(划线长度≥500mm)，测量多点划线无断线的最小直径，其直径作为多点的最小识别物测试结果(单位：mm)。
5.2.11 最小触摸间距测量
最小触摸间距测量步骤如下：
a) 整机开机并运行支持多点划线的画图软件;
b) 使用表 14 的测试设备，将两个直径为ɸ10mm 的铜柱分别固定于机械臂上(铜柱需要接地)，两铜柱间的起始距离为 50mm，两铜柱均垂直于触摸面，铜柱靠近触摸面的圆形截面到屏幕的起始距离均至少为 10mm;
c) 机械臂驱动两铜在 Z 轴方向垂直靠近触摸面，直到两铜柱的圆形面均接触到触摸面后，控制机械臂驱动两个铜柱，以 10mm/s 的速度在触摸面上进行无断线划线的同时，逐渐拉近两个铜柱之间的距离，直到系统测到两点报点刚好变成单点报点为止。
d) 参考 a)~c)的步骤，分别测量出在 X 轴、Y 轴以及45°方向上两只铜柱中心点之间在触摸面上的最短距离 LX 、LY 、L45 ° ,取 Max(LX ，LY ，L45 ° )为最小触摸间距 (单位：mm)。
5.2.12 可识别的最大触控点数测量
可识别的最大触控点数测量步骤如下：
a) 整机开机并运行支持多点划线的画图软件;
b) 使用多个直径取值为ɸ7mm 的铜柱(各个铜柱需要接地，铜柱与铜柱之间间距≥50mm，铜柱圆形面完全和屏幕贴住，铜柱数量按产品规格所要求的触控点数一致)，在有效显示区域内同时划线，划线长度需要≥500mm，观察按划线轨迹显示出的线条数量;
c) 检査记录测试结果，要求无断线，且出现的线条数和所用的铜柱数量一致。
5.2.13 多手指/被动笔书写点数检验
多手指/被动笔书写点数检验方式如下：
必备：2 笔书写检验步骤如下：
a) 整机开机并运行支持多点划线的画图软件;
b) 使用表 14 的测试设备，将两支被动笔分别固定于可在 X、Y、Z 轴方向移动，且装有压力传感探头的机械臂上(被动笔需要接地，笔身垂直于触摸面)，被动笔笔头与触摸面起始距离至少 10mm，控制两个机械 臂驱使被动笔 笔头接触触摸面在整机 画板软件 下进行书 写“ 正”字， 正字大小40mm*40mm~50mm*50mm，机械臂在 X、Y 轴方向移动速度 300mm/s，Z 轴方向移动速度 200mm/s，机械臂驱动被动笔书写过程中，抬笔高度 5~10mm，写满整屏;
c) 书写效果检查，不允许有丢笔、断笔、翘笔、连笔、跳线现象，有明显短笔的笔数 (显示笔迹≤实际行程长度的 50%)记为 NT，整屏总字数记为 MT，计算短笔的概率：NT/(5*MT);
可选：3 笔或以上的书写测试，可参考以上步骤，按产品规格要求修改机械臂结构进行多笔书写。
5.2.14 手掌识别检验
手掌识别检验测试步骤如下：
a) 在整机上运行支持手掌板擦识别功能的画图软件;
b) 整机视窗区域分成 9 宫格区域，在各个宫格接近中心的区域，使用导体(需接地)平铺接触于触控模组屏幕表面，导体与屏幕间的接触面积为 30mm*50mm，分别在对应区域里依次沿 X 轴方向、Y轴方向，以及与 X 轴方向呈 45°的方向执行模拟板擦在平面上的擦除动作，检查整机画板软件的板擦功能是否被唤出。
要求：若上述每个区域均可以正常唤出板擦功能，则认定该系统支持手掌识别功能。
(若存在至少一个区域不能正常唤出板擦功能，则认定该系统不支持手掌识别功能)。
5.2.15 主动电容笔压感测量
主动电容笔压感测量方式如下：
测试工具：主动电容笔，压力夹具(如使用 TRIEX 触控笔压力测试工具或 ITRI 笔架)和砝码。
测量步骤：
a) 触控模组平躺放置，连接至计算机，并运行可以显示和记录压感信息的软件;
b) 压力夹具按如下操作方式进行笔校准：
(1)将笔固定到压力夹具的笔架上。
(2)调整配重，使笔在 0g 压力下完美平衡。
注意：不要在测试过程中重新校准压力夹具。
c) 将对应重量的砝码添加到压力夹具上的笔架上。
需求重量为 7g(可选)、15g(可选)、25g、50g、75g、100g、125g、150g、175g、200g、250g、 300g、350g、400g、450g、500g。
d) 将笔缓慢轻柔地降低到屏幕上的任何位置，并保持笔与屏幕接触至少 5 秒钟，记录此时稳态的压感值;
e) 5 秒后，从笔架底部将笔从屏幕上提起，以确保测试不会记录额外的压力;
f) 记录好重量为 7g(可选)、15g(可选)、25g、50g、75g、100g、125g、150g、175g、200g、 250g、300g、350g、400g、450g、500g 下各自对应的压感值，换算成对应的压感百分比(对应的压感 值与压感等级的比值)，绘制出对应的压感拟合曲线：以施加给笔的重量作为 x 轴，压感百分比作为 y 轴，与如下的压感曲线进行对比(参考如下图 7)。
图 7 压感曲线参考
5.2.16 手笔模式测试
手笔模式测试方式分别如下：
1、手笔分离测试步骤如下：
a) 整机开机并运行画图软件;
b) 一手指在画板软件上划线，同时一手持主动电容笔进行书写划线;
要求：主动电容笔能正常书写划线，同时手指划线处不再输出任何触控坐标。
2、手笔同写测试步骤如下：
a) 整机开机并在 Windows 10 系统运行软件“Simultaneous pen and touch balloons”，参照如下图 8;
图 8 Simultaneous pen and touch balloons 软件示意
b) 请将手指放在气球上以将其停止;
c) 用笔点击停止的气球，确认被点气球的状态。
要求结果：如果气球被主动电容笔点击后消失，则该设备系统支持手笔同写功能。
(如果气球移动或未消失，则该设备系统不支持手笔同写功能)。
5.3 触控手写笔相关测试
5.3.1 笔尖划线寿命测试
笔尖划线寿命测试步骤如下:
a) 笔身垂直于触摸面，并且在笔尖处垂直施加 5N 的书写压力;
b) 笔尖在触摸面来回划线，划线的长度设置在 10cm~15cm 之间，每分钟划线 20~30 个来回，总划
线行程 5km，。
测试完后要求：
(1)笔尖损耗≤1mm，笔尖无破损、无明显起毛或严重脏污;
(2)在对应匹配的触控模组上进行点击、划线、书写正常，无丢点、划线断线、明显丢短笔的情况。
5.3.2 笔尖点击寿命测试
点击寿命测试步骤如下:
a) 笔身垂直于触摸面并且给笔尖施加 5N 的书写压力;
b) 笔尖垂直作用于触摸面，点击 200000 次，点击速率 40~50 次/min;
测试完后要求：
(1)笔尖损耗≤1mm，笔尖无破损、无明显起毛或严重脏污;
(2)在对应匹配的触控模组上进行点击、划线、书写正常，无丢点、划线断线、明显丢短笔的情况。
5.3.3 笔尖耐压测试
笔尖耐压测试方式如下：
测试设备：压力机;
笔尖耐压测试步骤如下：
a) 笔尖垂直于触摸面向下，用 30N 的力按压 5s，共计进行 5 次，每次间隔 10s;
b) 笔尖 45 度于触摸面向下，用 30N 的力按压 5s，共计进行 5 次，每次间隔 10s。
测试完后要求：
(1)笔尖无裂纹、断裂;
(2)在对应匹配的触控模组上进行点击、划线、书写正常，无丢点、划线断线、明显丢短笔的情况。
5.3.4 笔跌落测试
笔跌落测试步骤如下：
a) 笔尖、笔尾、笔身分别朝下从 1.2m 的高度跌落，每个方向跌落 2 次，6 次为一个循环，共 3 个循环;
b) 每个面跌落后都要对手写笔样品进行外观、结构、功能检查。
测试完后要求：
(1)笔外壳、固定结构件、笔尖不能出现断裂或裂纹等异常;
(2)笔自身功能正常，在对应匹配的触控模组上进行点击、划线、书写正常，无丢点、划线断线、明显丢短笔的情况。
5.4 抗干扰的测试方法
5.4.1 抗 ESD 测试
抗 ESD 测试方式如下：
测试仪器：ESD 静电测试仪
1、ESD 空气放电测试步骤如下：
a) 整机开机并运行画图软件;
b) 将 ESD 静电测试仪调整为空气放电模式，电压值调整为±8kV;
c) 在视窗 9 宫格区域中(参考图 9)，分别取各个宫格的中心点作为测试点，使用 ESD 静电测试仪进行放电，每一个点放电 10 次;
(注意：建议每次放电完成，用地线导走残留电荷，避免电荷在屏体上累积。)
图 9 ESD 空气放电位置(视窗区域)示意
d) 在放电过程中确认画板上是否有出现误报点现象，放电完成后确认触控功能是否正常。要求：(1)ESD 放电测试完成后触控模组无功能损坏，触控正常;
(2)ESD 放电后无跳点现象，放电过程中可出现跳点，但放电完成 1s 内需恢复正常。
2、ESD 接触放电测试步骤如下：
a) 整机开机并运行画图软件;
b) 将 ESD 静电测试仪调整为接触放电模式，电压值调整为±4kV;
c) 将触控模组屏幕边缘位置的长边、宽边的三等分的中心处的位置作为测试点，合计 12 个点(位置参考图 10)，使用 ESD 静电测试仪进行接触放电，每一个点放电 10 次;
(注意：建议每次放电完成，用地线导走残留电荷，避免电荷在屏体上累积。)
图 10 ESD 接触放电位置(触控模组边缘)示意
d) 在放电过程中确认画板上是否有出现误报点现象，放电完成后确认触控功能是否正常。要求：(1)ESD 放电测试完成后触控模组无功能损坏，触控正常;
(2)ESD 放电后无跳点现象，放电过程中可出现跳点，但放电完成 1s 内需恢复正常。
5.4.2 防水能力测试
防水能力测试步骤如下：
a) 在电容触控模组的触摸面均匀喷上水雾(要求水雾不会形成流动的水滴);
b) 在此状态下静置至少 5 分钟，观察并记录静置期间，整机是否会出现自动报点;
c)将水雾擦干后检查整机是否无触控异常，点击、划线、书写是否正常。
要求：(1)有水雾附在触摸面，无触摸时不会误报点;
(2)水擦干后，点击、划线、书写等触控操作工作正常。
5.4.3 抗共模干扰测试
电容式触控模组-抗共模干扰测试方式如下：
1、抗带内干扰能力测试步骤如下：
a) 确认当前触控模组的触控工作频率;
b) 利用信号发生器产生幅度为 5 V 的方波干扰信号，其频率设置为上述触控工作频率;
c) 将上述干扰信号接至导体测试杆，并使测试杆触碰触控模组视窗中心;
d) 检查如下项目：i)是否有出现跳点;ii)当前触控模组的工作频率是否切换至另一频率; iii)划线效果是否正常;
e) 重复 a)~d)步骤，检查每一组工作频率下触控模组的情况。
要求：注入干扰信号过程中可允许 1~2s 内出现跳点，随后恢复正常，且能正常划线(无断线、跳线等现象)。
图 11 外部噪声注入示意
2、带外抗干扰能力测试步骤如下：
a) 使测试杆接触触控模组屏幕表面;
b) 将信号发生器连接测试杆，利用信号发出器输出幅值为 5V 的方波干扰信号，其频率设置为触控工作频率± 15kHz 范围以外的频率，频率上限为 10MHz;
c) 检查以上干扰信号注入触控模组时的触控情况，检查是否出现跳点现象，并确认划线效果是否正常。
要求：注入干扰信号时无跳点，并且可正常触控，划线正常(无断线、跳线等现象)。
5.4.4 抗边缘干扰测试
电容式触控模组-抗边缘干扰测试步骤如下：
a) 分别在距离电容触控模组视窗边界 7mm 以外的，四个边的上、中、下或左、中、右位置(合计12 个位置)，使用ɸ7mm 铜柱进行接触以及平行于视窗边缘划线 300mm;
b) 确认电容触控模组内是否有触控报点情况。
要求：在距离电容触控模组视窗边界 7mm 以外的区域，进行触摸或划线时，触控模组内无报点。
5.4.5 抗显示干扰测试
电容式触控模组-抗显示干扰测试步骤如下：
a) 将整机调至 100%亮度，显示屏设置为自身的物理分辨率，并分别打开如下带有格子画面(参考图 12：单个格子为 16*16 的像素)、黑白棋盘格画面(参考图 13：单个格子为 120*120 的像素)、黑白横条纹画面(参考图 14：黑/白横向单条图案宽度为 15 个像素)背景的全屏画图软件(作为背景的测试图分辨率与显示屏物理分辨率一致);
图 12 格子画面示意参考
图 14 黑白横条纹画面示意参考
b) 分别在 a)中所要求的的背景画图软件上进行划线，划线轨迹参考如下图 15 的实线示意。
图 15 画线轨迹参考示意图
要求：静置时无跳点，可以正常划线，无丢笔/断线/跳点/跳线/抖动现象。
5.4.6 抗两芯电源线(无接地线)干扰测试
电容式触控模组-抗两芯电源线干扰测试步骤如下：
a) 整机接两芯电源线并上电开机;
b) 整机上运行画图软件，分别执行单点点击操作(参照图 16 的示意，点击位置为视窗各个 9 宫格
的中心区域，每个区域各点击 5*5 个点)，然后参照图 15 示意的轨迹进行划线操作。
要求：点击、划线操作显示正常，无丢点、断线、跳线、跳点现象。
图 16 9 宫格 5*5 点击位置示意图
5.4.7 抗同轴触摸干扰测试
电容式触控模组-同轴触摸干扰测试步骤如下：
a) 整机开机并运行画图软件;
b)分别在触控屏 9 宫格区域内的中心区域，分别沿 X 轴、Y 轴方向，使用 5 个ɸ7mm 铜柱一字排开(铜柱之间距离 10mm~30mm)，同时触碰屏幕表面，停留 5s 时间。
要求：在对应的同轴方向上不出现明显随机跳点现象。
5.4.8 抗太阳光干扰测试
红外式触控模组-抗太阳光干扰测试步骤如下：
a) 将触控模组垂直固定;
b) 整机开机并运行画图软件;
c) 把 CIE D65 光源，保持与触控模组夹角在 30°±5°,再把光照度计分别放在红外框的 4 个边，
向光照度计方向移动 CIE D65 光源，当光照度计读数≥50000lux 时，停止移动 CIE D65 光源，并固定好 CIE D65 光源，分别进行单点点击操作(参照图 16 的示意，点击位置为视窗各个 9 宫格的中心区域，每个区域各点击 5*5 个点)，然后参照图 17 示意的米字型轨迹进行划线操作，操作过程中勿遮挡光源
和光照度计。
要求：点击、划线正常，无丢点、断线、跳线、跳点现象。
图 17 米字型划线轨迹示意图
5.4.9 抗荧光灯干扰测试
红外式触控模组-抗荧光灯干扰测试步骤如下：
a) 将触控模组垂直固定;
b) 整机开机并运行画图软件;
c) 把荧光灯光源(功率≥85W)，保持与触控模组夹角在30°±5°,再把光照度计分别放在红
外框的4个边，向光照度计方向移动荧光灯光源，当光照度计读数≥5000lux时，停止移动荧光灯
光源，并固定好荧光灯光源，分别进行单点点击操作(参照图16的示意，点击位置为视窗各个9宫格的中心区域，每个区域各点击5*5个点)，然后参照图17示意的米字型轨迹进行划线操作，操作过程中勿遮挡光源和光照度计。
要求：点击、划线操作显示正常，无丢点、断线、跳线、跳点现象。
5.4.10 抗钨灯干扰测试
红外式触控模组-抗钨灯干扰测试步骤如下:
a) 将触控模组垂直固定;
b) 整机开机并运行画图软件;
c) 把钨灯光源(功率≥200W)，保持与触控模组夹角在 30°±5°, 再把光照度计分别放在红外框的 4 个边，向光照度计方向移动钨灯光源，当光照度计读数≥5000lux 时，停止移动钨灯光源，并固定好钨灯光源，开始在屏幕上进行单点点击操作(参照图 16 的示意，点击位置为视窗各个 9 宫格的中心区域，每个区域各点击 5*5 个点)，然后参照图 17 示意的米字型轨迹进行划线操作，操作过程中勿遮挡光源和光照度计。
要求：点击、划线操作显示正常，无丢点、断线、跳线、跳点现象。
5.4.11 抗遮挡测试
红外式触控模组-抗遮挡测试步骤如下:
a) 将触控模组垂直固定;
b) 参考图 18 示意的位置，仅选取其中的一个位置(例如编号 1)，先单独放置一个厚度不低于5mm 的 20×20mm 不透光物体作为遮挡物，遮挡物的20mm×20mm 的平面贴放于屏幕表面;
c) 整机重新开关机并运行画图软件，屏幕上进行单点点击操作(参照图 16 的示意，点击位置为视窗各个 9 宫格的中心区域，每个区域各点击 5*5 个点)，然后参照图 17 示意的米字型轨迹进行划线操作，在点击和划线操作时，需要避开遮挡物，点击和划线的地方距离遮挡物不小于 30mm。
d) 将已测编号位置的遮挡物取下，然后参照 a)~c)的步骤和方式，仅选取一个其他未测试的编号的位置，放置对应的遮挡物进行测试(注意：整个测试过程中，屏幕上有且只有一个遮挡物用于测
试)，直到图 18 所示的 9 个编号的位置都单独测完为止。
要求：点击、划线操作显示正常，无丢点、断线、跳线、跳点现象。
图 18 遮挡物位置示意图
5.6 电磁兼容特性限值测量方法
谐波电流限值、干扰特性限值测量分别按 GB 17625.1—2012 和符合 GB 9254-2021 的有关要求测量方法进行测量。
交互式平板显示设备的谐波电流限值应符合 GB 17625.1—2012 的有关要求，干扰特性限值应符合GB 9254—2021 的有关要求。
5.7 可靠性试验方法
按 SJ/T 11325—2006 的有关规定进行试验。
5.8 环境试验方法
5.8.1 低温贮存试验
试验设备：恒温恒湿室
样品状态：模拟整机状态
样品数量：2pcs
实验条件：-25℃, 贮存4H;
试验步骤：
a) 试验前按照试验检查项要求对样品的触控模组外观、触控功能进行确认;
b) 样品在试验箱内处于无包装、不上电状态，放入试验箱内;
c) 试验箱启动后用 30 分钟内变化至 25℃并保持2 小时;
d) 将试验箱内温度用 100 分钟内降至-25℃;
e) 低温-25℃保持持续时间4 小时;
f) 将试验箱内温度用 100 分钟升至25℃;
g) 在 25℃环境温度下恢复 4 小时;
h) 试验结束后对样品的触控模组外观、触控功能进行确认。
5.8.2 高温贮存试验
试验设备：恒温恒湿室
样品状态：模拟整机状态
样品数量：2pcs
实验条件：55℃, 贮存 16H;
试验步骤：
a) 试验前按照试验检查项要求对样品的触控模组外观、触控功能进行确认;
b) 将样品在无包装、不上电的状态下，放入试验箱内;
c) 试验箱启动后用 30 分钟变化至 25℃并保持2 小时;
d) 用 70 分钟内升温至 55℃;
e) 55℃环境下保持 16 小时;
f) 保持段结束后用 70 分钟内降温至 25℃;
g) 在 25℃环境温度下恢复 4 小时;
h) 试验结束后对样品的触控模组外观、触控功能进行确认。
5.8.3 高温高湿贮存试验
试验设备：恒温恒湿室
样品状态：模拟整机状态
样品数量：2pcs
实验条件：40℃, 95%RH，贮存 96H;
试验步骤:
a) 试验前按照试验检查项要求对样品的触控模组外观、触控功能进行确认;
b) 将样品在无包装、不上电的状态下，放入试验箱内;
c) 试验箱启动后用 30 分钟内变化至 25℃50%RH 并保持2 小时;
d) 用 40 分钟内升温至 40℃;
e) 用 60 分钟内将湿度由 50%RH 升至 95%RH;
f) 在 40℃, 95%RH 环境下保持 96 小时;
g) 保持段结束后先将试验箱内湿度用 30 分钟内降至 75%RH，再用 40 分钟内降温至25℃;
h) 最后在 30 分钟内降湿度至 50%RH，并保持 4 小时;
i) 试验结束后对样品的外观、触控模组功能进行确认。
5.8.4 温度变化试验
试验设备：恒温恒湿室
样品状态：模拟整机状态
样品数量：2pcs
实验条件：-20℃~50℃,温变速率：1±0.2℃/min，高低温状态各保持 3H，每个循环做一次功
能测试，共计 10 个循环
试验步骤：
a) 试验前按照试验检查项要求对样品的触控模组外观、触控功能进行确认;
b) 将样品在无包装、不上电的状态下，放入试验箱内;
c) 试验箱启动后用 30 分钟将温度稳定至 25℃;
d) 按照规定的温度变化速率升温至 50℃, 并保持 3 小时，检查触控模组外观、触控功能;
e) 按照规定的温度变化速率降温至-20℃,并保持 3 小时，检查触控模组外观、触控功能;
f) 共计测试 10 个循环，结束后将温度恢复25℃;
g) 试验结束后对样品的触控模组外观、触控功能进行确认。
5.8.5 低温工作试验
试验设备：恒温恒湿室
样品状态：模拟整机状态
样品数量：2pcs
实验条件：-10℃, 4H;
试验步骤：
a) 试验前按照试验检查项要求对样品的触控模组外观、触控功能进行确认;
b) 样品放入试验箱后上电开机;
c) 试验箱启动后用 30 分钟变化至 25℃, 50%RH 并保持 2 小时;
d) 在 70 分钟内降温至-10℃, 保持 4 小时;
e) 试验 2 小时的时候，对样品的触控模组外观、触控功能进行确认;
f) 工作试验完成后用 70 分钟内升温至 25℃, 然后保持 4 小时;
g) 试验结束后对样品的触控模组外观、触控功能进行确认。
5.8.6 高温工作试验
试验设备：恒温恒湿室
样品状态：模拟整机状态
样品数量：2pcs
实验条件：40℃, 24H;
试验步骤：
a )试验前按照试验检查项要求对样品的触控模组外观、触控功能进行确认;
b) 样品放入试验箱后上电开机;
c) 试验箱启动后用 30 分钟变化至 25℃, 50%RH 并保持 2 小时;
d) 在 40 分钟升温至 40℃;
e) 在 40℃条件下保持 24 小时;
f) 试验过程中每个 4 小时对样品的触控模组外观、触控功能进行确认;
g) 工作试验完成后用 40 分钟内降温至 25℃, 并保持 4 小时;
h) 试验结束后对样品的触控模组外观、触控功能进行确认。
5.8.7 高温高湿工作试验
试验设备：恒温恒湿室
样品状态：模拟整机状态
样品数量：2pcs
实验条件：40℃, 95%RH，48H;
试验步骤：
a) 试验前按照试验检查项要求对样品的触控模组外观、触控功能进行确认;
b) 样品放入试验箱后上电开机;
c) 试验箱启动后用 30 分钟变化至 25℃, 50%RH 并保持2 小时;
d) 在 40 分钟内升温至 40℃,然后用 1 小时内将湿度升至 95%RH;
e) 在 40℃, 95%RH 条件下，保持 48 小时;
f) 试验过程中每个 4 小时对样品的触控模组外观、触控功能进行确认;
g) 工作试验完成后用 30 分钟将湿度降至 75%RH，然后 40 分钟内降温至 25℃,最后用 30 分钟降湿至 50%RH 并保持 4 小时;
h) 试验结束后对样品的触控模组外观、触控功能进行确认。
5.8.8 低气压工作试验
试验设备：低气压试验箱
样品状态：模拟整机状态
样品数量：2pcs
实验条件：35℃ , 55kPa，4H;
试验步骤：
a) 试验前按照试验检查项要求对样品的触控模组外观、触控功能进行确认;
b) 样品放入试验箱后上电开机;
c) 试验箱启动后用 30 分钟将温度稳定至25℃;
d) 按照 0.5℃/min 温度变化速率升温至 35℃,并保持 2 小时;
e) 按照不超过 10kPa/min 气压变化速率降至 55kPa，然后保持 2 小时，待温度稳定之后，继续保持 4 小时，检查示触控模组外观和触控功能;
f) 将温度按照不超过 1℃/min 调整至 25℃, 气压按照不超过 10kPa/min 气压变化速率恢复至常温常压;
g)试验结束后对样品的触控模组外观、触控功能进行确认。
5.9 包装机械类试验方法
5.9.1 水平冲击试验
测试水平冲击试验方式参考 GB/T 4857.11—2005 有关要求进行测试。
5.9.2 随机振动试验
测试包装随机振动试验方式参考 GB/T 4857.23—2021有关要求进行测试。
5.9.3 包装跌落试验
测试包装跌落试验方式根据测试条件，参考 GB/T 5398—2016 的有关要求进行测试。
5.10 安全性试验方法
按 GB 8898—2011 或 GB 4943—2011 的有关规定进行试验。
5.11 环保要求测试方法
按GB/T 26125—2011和GB/T 29786—2013的有关规定进行测试。
参考文献
[ 1] COMMISSION DELEGATED DIRECTIVE (EU) 2015/863 of 31 March 2015
[2] “Pressure Levels” .[Online]Available:https://docs.microsoft.com/en-us/windows- hardware/design/component-guidelines/pressure-levels(January 19,2019)
[3] “Simultaneous pen and touch validation”.[Online]Available：https://docs.microsoft.com/en- us/windows-hardware/design/component-guidelines/simultaneous-pen-and-touch-validation(June 21 2022)
