欢迎访问学兔兔标准下载网,学习、交流 分享 !
返回首页
|
搜索
首页
国家标准
行业标准
建筑标准
机械
电子信息
能源
环境保护
医药卫生
更多...
地方标准
团体标准
其他标准
国外标准
计量检定标准
计量技术标准
合格评定
资讯
标准动态
标准公告
标准知识
标准目录
政策法规
标准公告
更多...
标准规范
当前位置:
首页
>
行业标准
>
电子信息
> GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
收藏
大小:
11.75 MB
语言:
中文版
格式:
PDF文档
类别:
电子信息
更新日期:
2023-09-16
本站推荐:
升级会员
无限下载,节约时间成本!
关键词:
衰减
寿命
少数
载流子
电导
资源简介
本文件规定了非本征硅单晶和锗单晶体内载流子复合过程中非平衡少数载流子寿命的光电导衰减测试方法。
本文件适用于非本征硅单晶和锗单晶中非平衡少数载流子寿命的测试。直流光电导衰减脉冲光法可测试具有特殊尺寸的长方体或圆柱体样品,测试硅单晶的最短寿命值为50 μs,测试锗单晶最短寿命值为10μs。高频光电导衰减法可测试棒状或块状样品,测试硅单晶和锗单晶的最短寿命值为10μs。
注:直流光电导衰减方法有两种:直流光电导衰减脉冲光法和直流光电导衰减斩波光法(见附录A)。
替代GB/T 1553-2009
下载地址
点击进入下载地址列表
上一篇:
GB/T 30652-2023 硅外延用三氯氢硅
下一篇:
GB/T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法
立即下载
推荐信息
GB/T 36324-2018 信息安全技术 工业控制系统信息安全分级规范
GB/T 22726-2008 多声道数字音频编解码技术规范
GB/T 26125-2011 电子电气产品 六种限用物质的检测方法
GB/T 36073-2018 数据管理能力成熟度评估模型
GB/T 22080-2016 信息技术 安全技术 信息安全管理体系 要求
GB/T 8567-2006 计算机软件文档编制规范
SJ/T 11141-2017 发光二极管(LED)显示屏通用规范
GB/T 22081-2016 信息技术 安全技术 信息安全控制实践指南
GB/T 11446.1-2013 电子级水
SJ/T 11619-2016 软件工程 NESMA 功能规模测量方法版本2.1 使用功能点分析的定义和统计准则